為何電子產品要用高溫老化試驗箱進行測試？

　　伴隨著現代電子技術的飛速發展，電子產品的集成化程度越來越高，結構精細化以及工序多樣化是不可避免的，制造工藝也越來越復雜，這時候就會出現一些品質上的缺陷。這時就需要高溫老化試驗箱來對這些產品進行測試。在生產和制造過程中，由于設計不合理、原材料或工藝措施等原因而導致的產品質量問題可歸納為兩類：

　　1、產品性能參數沒有達到標準不符合使用要求。

 

　　2、常規檢測手段短時間內無法檢測出此類缺陷的潛在缺陷，需要在長期使用與應用過程中逐步檢測問題才能暴露出來，如硅片表面污染、組織不穩定、焊接空洞、晶片與管殼熱阻匹配不良等。通常這類缺陷需要在元件工作的額定功率和正常工作溫度下工作1000小時左右，才能完全暴露出缺陷。

 

　　很明顯，每個零件測試1000小時是不現實的，所以需要對測試產品施加熱應力和偏壓，比如使用高溫老化試驗箱進行高溫動力應力測試，以加速這種缺陷的早期暴露。即對電子產品施以熱、電、機等綜合外力，模擬嚴酷的工作環境，消除各種產品在加工時產生的應力及殘留溶劑等物質，使潛伏性故障提前發生，在短時間內使產品通過失效特性初期階段，然后提高產品的可靠性能。

 

　　經過高溫老化試驗箱的零件可使其在生產過程中出現缺陷、焊接、裝配等安全隱患提前暴露，老化后電氣參數測量、過濾掉那些失效或變值的元件，使產品盡早失效，在正常使用中盡可能消滅，從而確保出廠的產品能夠經得起時間的考驗。